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【普乐斯】AOI设备-AOI光学自动检测设备-Wafer AOI系列

Wafer AOI系列

产品简介

品牌：普乐斯
名称：AOI设备-AOI光学自动检测设备-Wafer AOI系列

产品特点

1、支持4/6/8英寸晶圆及切割环   
2、2500万像素分辨率，AI深度神经网络加持     
3、自动光学对焦、位置矫正、物镜切换
4、简易程式制作，减轻操作人员负担

产品参数

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型号 Wafer AOI系列
测试对象 支持4/6/8英寸晶圆及切割环
载台 微孔陶瓷X/Y/R
相机像素 2500万像素高分辨率
可检测平面 AI深度神经网络加持
显微镜光学系统 5轮物镜转换器，配备2X，5X，10X，20X显微物镜
光学模式 自动光学对焦，自动位置矫正，自动物镜切换
计算效率 多服务器分布式计算提速
控制方式 简易程式制作，减轻操作人员负担
图像系统 彩色图像Review系统
扩展升级 扩展兼容12英寸晶圆及切割环
注：以上参数仅供参考，本公司可能对相关产品参数进行调整，如有变动，恕不再另行通知。若有不明处，欢迎来电询问。

工作原理

AOI检测技术应运而生的背景是电子元件集成度与精细化程度高，检测速度与效率更高，检测零缺陷的发展需求，其最大优点是节省人力，降低成本，提高生产效率， 统一检测标准和排除人为因素干扰，保证了检测结果的稳定性，可重复性和准确性，及时发现产品的不良，确保出货质量。

应用领域

适用于晶圆后道工序外观检测   
精准检测晶圆图形/蚀刻不良、崩边/缺边、划伤/切割破损、异物、破损、脏污等缺陷
快速反应，专业配合，精心打造服务生态链
1年质保，终身维护，提供配套服务
承诺到达现场的时限：昆山4小时，苏州8小时，江浙沪24小时，其他区域48小时

荣誉资质
荣誉资质

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